石墨烯為奈米尺度的粉體，其材料製備方式因素，表面已含有比例不等的含氧官能基，分散上較奈米碳管或其他無機材料容易，但仍建議使用超音波震盪設備、高速攪拌設備、三滾筒研磨設備或其他，分散效果更佳。

單層石墨烯可搭配酒精、丙酮、DMF、NMP、THF等，高功率超音波震盪半小時至1小時後，而在DMF及NMP效果較佳。

目前我司石墨烯製品雖有AFM、Raman等檢測報告，但實際分析報告依儀器的限制，存有一些再現性及取樣代表性的問題。而石墨烯的層數亦會與其比表面積有關連性，故我司現階段會以BET的分析數據作為鑑別石墨烯厚度的主要方式。

石墨烯長度的鑑別，其長度在次微米或微米等級，在SEM同樣會有取樣代表性的問題產生，故我司現階段以雷射粒徑分析儀(Laser Diffraction)的方式作為鑑別石墨烯長度的主要方式。

目前受限於儀器的樣品限制，對於粉體型態的製品，其分析數據的再現性欠佳，可能是因樣品需以壓錠方式測試，但錠內仍含有空氣的雜質，造成分析數據不佳。另外，亦有儀器廠商測試肉眼可見之”石墨烯”膜熱傳導係數，應說明為石墨膜或”極多層石墨烯膜”而非石墨烯膜；因目前所定義的石墨烯係指厚度在奈米等級的產品，而非觸碰後感覺為膜的產品。

石墨烯的共軛結構使其具中孔(Mesopore)並接近微孔(Micropore)的孔徑大小，對於環境中的氣體皆有一定程度的吸附能力；且石墨烯表面存在不同程度的含氧官能基亦有親水性。故，如果實驗條件不能含水等汙染物，建議使用前以溫度105度進行樣品前處理；使用後，至於防潮箱中保存即可。

我公司氧化石墨(Graphite Oxide)可提供貴實驗室最安全的方式製備氧化石墨烯。使用我司的氧化石墨僅需置放於所需的溶劑中，如水、乙醇、NMP中，經超音波震盪後，再取其上清液，即為氧化石墨烯溶液 (1g的氧化石墨可產出0.8g的氧化石墨烯)。

石墨烯與奈米碳管為長徑比(Aspect ratio)相當大的材料，雖然厚度與直徑在奈米等級，但其長度仍為數微米至數十微米。因此溶液置放一段時間後，不論表面是否有改質，會因重力(Gravity)影響而有分層的情況產生。如欲改善此情況，可依貴實驗條件，再行添加分散劑、介面活性劑或提高介質黏度，可延緩此現象的發生時間。

一般CVD法製作的奈米碳管外觀微捲曲狀，實際操作時常會有糾結、纏繞等情況，分散上較麻煩；我司定向型碳管外觀為筆直狀，在實際分散上效果更佳。

依據目前客戶的訊息回饋、成本考量、比表面積及個別的分散能力，針對我司的產品添加濃度，大概有以下的添加範圍
(1) 水性系統:100ppm-5wt%
(2) 油性溶劑: 100ppm-5wt%
(溶劑包含:IPA、EAC、MEK、NMP等)
(3) 樹脂系統: 100ppm-10wt%
(Expoxy、Acrylate & PU resin等)

CNT-COOH與 CNT-OH 或 CNT-NH2 皆可分散於水，酒精及NMP
1. 分散於水的最佳程度以CNT-COOH最好,CNT-OH 與 CNT-NH2 次之。
2. 分散於酒精的最佳程度以CNT-COOH最好,CNT-OH 與 CNT-NH2 次之。
3. 分散於NMP的最佳程度, CNT-COOH,CNT-OH 與 CNT-NH2 三者皆差不多。
4. 對於PU與樹脂的反應性以 CNT-NH2 最佳。

複合材料在碳管的添加量由通常ppm 至5%不等，碳管的成本因素就顯得相當重要，而改質技術則是進入這領域相當重要的門檻。我司目前有產業用改質碳管方案，讓您不需費心於碳管的改質製程且價格較以往大幅降低許多，歡迎業界客戶來電詢問。

DLS(奈米粒徑分析儀)是一種快速檢測膠體粒子粒徑的分析方法，但其分析結果為粒子之水力直徑(Hydrodynamic diameter)，與TEM或SEM分析結果的一次粒徑比較，大多會偏大，此為正常現象(如因保存方式或改變其分散環境所造成的聚集情況則不論)。而粒徑大至某個程度後，則兩者差距會減少。上述兩種分析方法，都是標準方法，皆可採用分析之。

利用電泳光散射分析膠體粒子之Zeta Potential有可能會因導入數十或數百伏特的電壓，致使溶液在該儀器樣品槽內因電極周圍產生的焦耳熱(Joule heat)，可能對膠體粒子產生影響。對於某些膠體粒子表面有接官能基的產品，會因此破壞其特性。動態光散射原理分析其粒徑，則可回收再使用。

膠體粒子狀的溶液產品，在乾燥變為粉體後，復溶於溶劑中，會因為團聚問題而無法回復均勻分散的狀態。(膠體粒子類產品也常因儲存方式及效期而造成顆粒團聚現象，此皆為不可逆的狀態而無法重新分散、改善之。)

因奈米銀線為長徑比相當大的產品，如欲上述情況，建議搖晃至底部無沉澱即可使用。如欲使用超音波震盪，勿持續超過1分鐘，以避免破壞其針狀結構。

本公司非常歡迎來電索取樣品，但設計一個實驗，除了濃度、溶劑、分散劑…等條件，皆需要用到一定數量的材料，提供小量的樣品並無法一次就測試出最佳的條件。因此，我們有最小訂購量，應可符合您的多樣化需求。

我司代理的DCM-470為分析溶劑-液體型態之介電常數，無法分析固體樣品之介電常數。

在加入顆粒後的溶液樣品，會因為樣品中除溶劑外，還包含溶質等因素，故建議使用TDR-5000型高黏度型介電常數分析儀。分析數據代表該樣品整體的介電常數，即為溶質與溶劑。本儀器最高黏度可至數千cp.

TSS-5X主要分析樣品表面對於2-22um吸收與反射的能力，相同的材質但不同的表面粗糙度，都會影響分析結果。如表面拋光與表面拉絲的不銹鋼，都會有分析上的差異。另外，金屬樣品中的鋁與氧化鋁，雖然氧化鋁層厚度不大，但亦有產生影響。

TSS-5X主要分析樣品表面對於2-22um吸收與反射的能力，相同的材質但不同的顏色，都會影響分析結果。如黑色與白色的PET樣品，都會有分析上的差異。

TSS-5X主要分析樣品表面對於2-22um吸收與反射的能力，如樣品表面非平面狀，會影響2-22um輻射反射的訊號接收、造成反射的輻射散失而影響分析的數據再現性。

TSS-5X為常溫型放射率測定器，分析環境溫度最高至45度。如欲超過此溫度，可洽中科院或工研院機型。

TSS-5X於台灣已實際用於以下產業的樣品分析，如Low-E玻璃、複合材料、紡織業、不銹鋼、航太製品、家電製品等。