遠紅外線放射率測定器-TSS-5X-3

• 本儀器用簡單且高精度的方式測量在常溫中各種物體的放射率(Emissivity)。
• 本儀器已應用於航太科技、核能、半導體産業等的尖端技術等領域。
• 從研究開發至生産線上的快速QC等。

應用：

• 電子零件、各式散熱基材測量其輻射放射率，評估其散熱效率。
• 燃料電池、面板產業內部零件散熱效果。
• 各種薄膜處理前後的輻射放射率比較，如Low–E金屬膜及隔熱塗料等。
• 光學鏡頭、特殊配送管材內壁之放射率等。
• CIGS太陽光電玻璃QC及太陽能電池之抗反射層之量測。

優點：

• 反應時間快、常溫下即可量測。
• 在放射率儀器量測中，相較FT-IR，設備成本大幅降低。
• 操作使用簡單；可節省大部分用於產品宣傳的教育訓練時間。

原理：

• 紅外線熱源加熱後之的半球面黒體爐，照射於片狀樣品之表面。
• 樣品表面反射之輻射，依樣品的特性，一定比例輻射射進半球面黒體爐的頂點小孔。

規格：

• 量波長：2-22μｍ
• 測量範圍：放射率0.01～ 1.00
• 解析度： ±0.01以内
• 測量面積： φ15ｍｍ
• 測量距離：13ｍｍ
• 樣品温度： 10 ～ 40℃（室温）
• 數值顯示：LED數位表示
• 樣品型式：片狀、板狀、針織布類皆可